设计注意事项介绍3D 光学度量系统可用于许多不同的应用，其中包括：
这些应用中测量的特定参数包括二维和三维表面形状、轮廓、粗糙度和间断面。 结构照明是光学度量的一种形式，它的原理是对物体进行照明并测量一系列明确定义的光带或光斑。位于某个预定义角度（不同于照明角度）的高分辨率摄像机会记录物体上的这些光带或光斑。然后，系统会根据光学三角原理对捕获的图像进行高级处理，并使用成熟的相移算法来定义多维图像。 从投影角度说，这些系统的最终测量精度取决于您如何准确、反复地控制光带（或光带宽度）及灰度。如果控制精确，则可以对低于 1/10 带宽（< 1 微米）的测量精度进行控制。 在物体上创建光带或光斑的方法有很多，其中包括投影法或固定光栅法。条纹投影法越来越受到欢迎，DLP® 技术正在推动这种方法不断进步。DLP® 芯片是 DLP® 技术的核心部分，前者具有安装在半导体芯片上可进行独立控制的微镜阵列。DLP® 芯片还提供了高保真灰度位深。具有高分辨率并可对独立像素和灰度进行精确控制，DLP® 技术使反复投影具有不同宽度、方向和相移值的条纹成为可能，从而实现了高精度 3D 光学测量系统。 产品示例了解 ViALUX GmbH 的 z-Snapper 以及它如何将基于 DLP® 的条纹投影用于 3D 光学度量应用，例如：
了解 GFMesstechnik GmbH 如何将 DLP® 技术用于其 3D 形状采集产品，例如：
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