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产品说明描述TSW1100 能实现从 TI 的高速高分辨率模数转换器 (ADC) 进行高速数字数据采集。TSW1100 设计用于与具有 2 至 170MSPS 并行输出的 TI 单或双通道 ADC 评估模块 (EVM) 直接协作,它本身的软件能让用户快速评估 ADC,无需昂贵的逻辑分析器和复杂的常规分析。TSW1100 的数据采集速度高达 170MSPS,数据采集深度达 16 x 1 百万点。它可以运行于双通道模式,从而能够实现双通道 ADC 的同步采集。数据通过 USB 接口传输实现了简便的 PC 控制,只需一个电源即可进行操作。 特性
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| ADS5545 评估模块 | ADS5545EVM | Texas Instruments | 开发电路板/EVM |
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| ADS5520 | 12 位 125MSPS 模数转换器 | 数据转换器 | |
| ADS5521 | 12 位 105MSPS 模数转换器 | 数据转换器 | |
| ADS5522 | 12 位 80MSPS 模数转换器 | 数据转换器 | |
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| ADS5542 | 14 位、80MSPS 模数转换器 | 数据转换器 | |
| ADS5545 | 具有 LVDS/CMOS 输出的14 位 170MSPS ADC | 数据转换器 | |
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| ADS6425 | Low power monolithic 4-channel, 12-bit 125MSPS ADC | 数据转换器 | |
| ADS6443 | 具有串行 LVDS 输出的四路 14 位 80MSPS ADC | 数据转换器 | |
| ADS6444 | 4-channel, 14-bit, 105MSPS Analog-to-Digital Converter | 数据转换器 | |
| ADS6445 | 具有串行 LVDS 输出的四路 14 位 125MSPS ADC | 数据转换器 | |
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