我们适用于 X 射线平板检测器、电荷检测和电容测量系统的高通道数 AFE 集成了多达 256 个积分器、可编程增益放大器、相关双采样器和高速电荷数字模数转换器 (ADC)。这些产品采用 Chip-On-Flex 封装或芯片，可提供各种电荷范围和扫描时间选项，支持设计人员在静态、半动态、动态、无损检测以及医疗和牙科应用中权衡功耗和性能。
为何选择我们的数字 X 射线 AFE？
简化系统设计
通过单电源方案和高集成度简化电路板布局布线并节省更多空间。
提升系统性能
降低功耗并提升系统帧速率和成像质量。
兼容的产品系列可满足各类市场需求
引脚、封装和软件兼容的产品系列提供了一种单一平台方法，助力客户满足各种静态、动态和高电荷范围应用的需求。